德律TR-518FR機器測試程序調(diào)試技巧
德律TR-518FR機器測試程序調(diào)試技巧
編寫好的程式在實測時，因測試信號的選擇，或被測元件線路影響，有些Step會Fail
（即量測 值超出±%限），必須經(jīng)過Debug。
R：在E[編輯]下，ALT-X查串聯(lián)元件，ALT-P查並聯(lián)元件。據(jù)此選好“信號”（Mode）
和串聯(lián)*少元件的Hi-P/Lo-P，並ALT-F7選擇GuardingPin。
R//C：Mode2及Dly加大（參考：T=5RC）
R//D（orIC、Q）：Mode1
R//R：Std-V取並聯(lián)阻值
R//L：Mode3、4、5；根據(jù)Zl=2πfL，故L一定時，若f越高，則Zl越大，則對
R影響越小
C：在[編緝]下一般根據(jù)電容值大小，選擇相應(yīng)的Mode。如小電容（pF級），可選高
頻信號（Mode2、3），大電容（nF級）可選低頻信號（Mode0、1），然後ALT-F7
選擇隔離。3uF以上大電容，可以Mode4、8直流測試。
C//C：Std-V取並聯(lián)容值
C//R：Mode5、6、7，由Zc=1/2лfC,故C一定時，f越高，Zc越小，則R的影響越
小。
C//L：Mode5、6、7，並且f越高效果越好。
L：F8測試，選擇Mode0、1、2中測試值*接近Std-V，然後Offset修正至準確。
L//R：Mode5、6、7。
PN結(jié)：F7自動調(diào)整，一般PN正向0.7V（Si），反向（2V以上）
D//C：Mode1及加Delay。
D//D（正向）：除正嚮導通測試，還須測反向截止（2V以上）以免D反插時誤判。
Zener：Nat-V選不低於Zener崩潰電壓，若仍無法測出崩潰電壓，可選Model（30mA），
另外10-48Vzener管，可以HV模式測試。
Q：be、bc之PN結(jié)電壓兩步測試可判斷Q之類型（PNP orNPN），Hi-P一樣（NPN），
Lo-P一樣（PNP），並可Debugce飽和電壓(0.2V以下)，注意Nat-V為be偏置
電壓,越大Q越易進入飽和，但須做ce反向判斷(須為截止0.2V以上)，否則應(yīng)
調(diào)小Nat-V。
程式的Debug
R：在E[編輯]下，ALT-X查串聯(lián)元件，ALT-P查
并聯(lián)元件。據(jù)此選好“信號”（Mode）和串聯(lián)
*少元件的Hi-P/Lo-P，并ALT-F7選擇
Guarding Pin。
R//C：Mode2及Dly加大（參考：T=5RC）
R//D（orIC、Q）：Mode1
R//R：Std-V取并聯(lián)阻值
R//L：Mode3、4、5，根據(jù)Zl=2πfL，故L一
定時，若f越高，則Zl越大，則對R影響
越小
C：在[編緝]下一般根據(jù)電容值大小，選擇相應(yīng)的
Mode。如小電容（pF級），可選高頻信號
（Mode2、3），大電容（nF級）可選低頻信
號（Mode0、1），然后ALT-F7選擇隔離。
3uF以上大電容，可以Mode4、8直流測試。
C//C：Std-V取并聯(lián)容值
C//R：Mode5、6、7，由Zc=1/2лfC,故C一定
時，f越高，Zc越小，則R的影響越小。
C//L：Mode5、6、7，并且f越高效果越好。
L：F8測試，選擇Mode0、1、2中測試值*接近
Std-V，然后Offset修正至準確。
L//R：Mode5、6、7。
PN結(jié)：F7自動調(diào)整，一般PN正向0.7V（Si），
反向（2V以上）。
D//C：Mode1及加Delay。
D//D（正向）：除正向?qū)y試，還須測
反向截止（2V以上）以免D反插時誤判。
Zener：Nat-V選不低于Zener崩潰電壓，
若仍無法測出崩潰電壓，可選
Mode1（30mA），另外10-48V
zener管，可以HV模式測試。
Q：be、bc之PN結(jié)電壓兩步測試可判斷Q之類型
（PNP orNPN），Hi-P一樣（NPN），Lo-P一
樣（PNP），并可Debugce飽和電壓(0.2V以
下)，注意Nat-V為be偏置電壓,越大Q越易進入
飽和，但須做ce反向判斷(須為截止0.2V以上)，
否則應(yīng)調(diào)小Nat-V。
德律TR-518FR機器測試程序調(diào)試技巧
德律TR-518FE/TR-518FV/TR-5001機器測試程序調(diào)試技巧